X射线荧光光谱分析钽铌精矿中的杂质元素

摘要：

利用XRF1700顺序型X射线荧光光谱仪对钽铌精矿粉末压片制样进行测定.以矿石中W、P、Si、Ti元素的荧光强度和含量(质量分数)所具有的对应关系,并考虑到各杂质元素之间以及与Ta、Nb元素之间的吸收与激发效应,经过校正拟合出W、P、Si、Ti的实际工作曲线.对钽铌精矿中这几项杂质元素测定结果与化学法结果相符,10次测定的RSD在0.36﹪~2.76﹪.

关键词： 钽铌精矿 成分分析 X射线荧光光谱分析 杂质元素

作者: 柏建明 于红燕 李瑞莲

作者单位: 宁夏东方钽业股份有限公司分析检测中心(石嘴山)

会议类型: 国内会议

会议名称: 第五届全国X射线荧光光谱分析学术报告会

会议地点: 昆明

会议语种:中文

页码: 93-94

在线出版日期: 2002-05-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）