质子辐照用于改善大功率快速晶闸管的特性

摘要：

采用3.7MeV-5.9MeV质子辐照对500A、1600V快速晶闸管实现了局部少子寿命的控制.对质子辐照在器件中的缺陷浓度进行了TRIM模拟.对通态电压V<,TM>和关断时间t<,q>的折衷关系进行了研究,确定了最佳的质子辐照能量,4.7MeV的质子辐照峰值缺陷位于快速晶闸管的N基区中间,可获得最佳的通态电压和关断时间的折衷.

关键词： 晶闸管 少子寿命 质子辐照 载流子分布

作者: 张昌利 金银东 金相哲 宋根浩 金南均 王正鸣 陆剑秋 张建平 李建华 朱佳政 杨丙凡 胡选文

作者单位: 韩国电气研究院(韩国) 西安电力电子技术研究所(西安) 中国原子能科学研究院(北京)

会议类型: 国内会议

会议名称: 中国电工技术学会电力电子学会第八届学术年会

会议地点: 深圳

会议语种:中文

页码: 127-130

在线出版日期: 2002-11-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）