硅铁中主次量元素的X射线荧光光谱测定

摘要：

本文采用粉末直接压片法X荧光光谱分析(XRF),通过基体校正等手段,实现了硅铁中Si、Ac、Fe等元素的测定与分析,实验证明该方法速度快、无污染、操作简便.

关键词： 硅铁成分分析 X射线荧光光谱分析 粉未压片制样

作者: 张俊

作者单位: 嘉峪关酒泉钢铁公司钢铁研究院理化所(甘肃嘉峪关)

会议类型: 国内会议

会议名称: 第五届全国X射线荧光光谱分析学术报告会

会议地点: 昆明

会议语种:中文

页码: 89-90

在线出版日期: 2002-05-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）