X射线荧光光谱测定锡精矿及渣中锡和钽

摘要：

介绍了应用X射线荧光光谱薄试样法测定锡精矿及其熔炼锡后熔渣中锡和钽.人工合成标准试样,检测范围(质量分数)分别为:ω(Sn)0.20﹪~50.00﹪,ω(Ta<,2>O<,5>)0.02﹪~10.20﹪.

关键词： X射线荧光光谱分析 锡精矿 成分分析 锡 钽

作者: 丁雪心

作者单位: 国家非金属矿产资源综合利用工程技术研究中心(河南郑州)

会议类型: 国内会议

会议名称: 第五届全国X射线荧光光谱分析学术报告会

会议地点: 昆明

会议语种:中文

页码: 73-74

在线出版日期: 2002-05-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）