X射线荧光光谱分析中基本参数的优化及其应用

摘要：

本文对X射线荧光光谱分析中基体效应校正采用的理论影响系数法以基本参数进行了比较和优化,并考察了其对理论影响系数的准确性和实际样品分析结果准确性的影响.

关键词： X射线荧光光谱分析 定量分析 基本参数优化 基体效应校正 理论影响系数

作者: 卓尚军 陶光仪 吉昂

作者单位: 中国科学院上海硅酸盐研究所(上海)

会议类型: 国内会议

会议名称: 第五届全国X射线荧光光谱分析学术报告会

会议地点: 昆明

会议语种:中文

页码: 7-7

在线出版日期: 2002-05-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）