会议专题

XRD摇摆曲线在薄膜材料质检中的应用

摇摆曲线 薄膜材料 外延膜 衬底 晶体结构

姬洪 王志红 史青 荣丽梅

科技大学材料分析中心(成都)

国内会议

第七届全国X射线衍射学术会议

武汉

中文

180~180

1998-11-01(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)