ZnO压敏电阻片残压比微观结构参数的关系

摘要：

该文实验研究了厚度ｄ对ＺｎＯ压敏电阻片残压比Ｋ〈，ｒ〉的影响规律，表明残压比同样存在几何效应。实验研究了残压比Ｋ〈，ｒ〉和电位梯度Ｅ〈，１ｍＡ〉、Ｋ〈，ｒ〉和微观结构参数的关系，表明残压比Ｋ〈，ｒ〉随电位梯度Ｅ〈，１ｍＡ〉成反比例下降，随平均晶粒尺寸μ的增大而增大。找到了一个综合微观结构参数－平均晶粒尺寸μ和晶粒尺寸方差σ〈’２〉的乘积（σ〈’２〉μ），能较好地反映电性能与微观结构参数的关系。提出了计算机模拟微观结构模型，并采用计算机模拟了残压比Ｋ〈，ｒ〉和厚度ｄ、Ｋ〈，ｒ〉和平均晶粒尺寸μ以及Ｋ〈，ｒ〉

关键词： 氧化锌压敏电阻片 残压比 微观结构 避雷器

作者: 李盛涛 谢峰 刘辅宜

作者单位: 西安交通大学电气绝缘研究所

会议类型: 国内会议

会议名称: 第三届全国氧化锌避雷器学术交流会

会议地点: 青岛

会议语种:中文

页码: 1～7

在线出版日期: 1998-11-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）