压痕诱发单晶硅非晶化相变的透射电镜观察

关键词： 压痕 单晶硅非晶化相变 透射电镜

作者: 吴亚桥 徐永波

作者单位: 科学院金属研究所材料疲劳与断裂国家重点实验室 科学院金属研究所固体原子像开放研究实验室(沈阳)

会议类型: 国内会议

会议名称: 第十次全国电子显微学会议

会议地点: 大连

会议语种:中文

页码: 215～216

在线出版日期: 1998-01-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）