8X196MC在耐压测试仪中的设计

摘要：

本文主要叙述了以高性能十六位微处理器8X196MC为核心的耐压测试仪设计,介绍了用单片机耐压测试仪的软、硬件设计新方法,文中给出了所设计的耐压测试仪的数据流图、硬件原理框图、主流程图.尤其是将数据库管理系统的软件工程设计方法引用于单片机系统的设计,使整体设计简明、清晰,此法不失一般性.

关键词： 智能仪表 耐压测试仪 单片机 数据流图 流程图

作者: 林卫星

作者单位: 宁波大学信息科学与工程学院自动化系(浙江宁波)

会议类型: 国内会议

会议名称: 浙江省第二届青年学术论坛“新世纪的电力电子技术”分论坛

会议地点: 宁波

会议语种:中文

页码: 251-253

在线出版日期: 2001-10-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）