薄层树脂相吸光光度法测定高纯稀土中硅的研究

摘要：

本文用717型强碱性阴离子交换树脂转换成钼酸型,然后用此负载树脂吸附样品中的硅酸盐,形成树脂-硅钼黄体系,再用还原剂还原获得树脂-硅相蓝体系,在810nm波长处测定吸光度,实现了高纯稀土中硅的测定.

关键词： 薄层树脂相吸光光度法 高纯稀土 硅 固相萃取 分光光度法 硅痕量分析

作者: 闫永胜 黄卫红 陆晓华

作者单位: 华中科技大学环境科学与工程学院(武汉)

会议类型: 国内会议

会议名称: 第九届全国稀土分析化学学术报告会

会议地点: 武汉

会议语种:中文

页码: 116-117

在线出版日期: 2001-09-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）