交流阻抗谱研究双硫醇组装膜在外加电位下的缺陷形成

摘要：

本文用电化学循环伏安法和交流阻抗谱,初步研究了外加电位对于已二硫醇在金上的自组装膜结构的改变和缺陷的形成过程.

关键词： 电化学循环伏安法 交流阻抗谱 硫醇组装膜 膜缺陷

作者: 张波 李经建 张占军 蔡生民

作者单位: 北京大学化学与分子工程学院(北京)

会议类型: 国内会议

会议名称: 第十一次全国电化学会议

会议地点: 南京

会议语种:中文

页码: 94-95

在线出版日期: 2001-11-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）