关于VXI测试设备校准的研究

摘要：

本文对VXI测试设备校准以及影响设备的测量不确定度的因素进行了分析和探讨.

关键词： VXI测试设备 校准 测量不确定度 机箱 功能模块

作者: 杨永生

作者单位: 中国航空工业第一集团公司第613研究所

会议类型: 国内会议

会议名称: 中国航空学会航空工业测控技术学术交流会

会议地点: 北京

会议语种:中文

页码: 233-236

在线出版日期: 2001-04-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）