叶酸在汞电极上的电化学研究及其分析应用
本文利用差示脉冲溶出伏安技术和叶酸在电极表面的吸附特性,建立了测定痕量叶酸的电化学分析方法.方法具有快速、简便、灵敏度高、干扰少的优点.在不富集的实验条件下,差示峰电流与叶酸浓度在3.39×10<”-8>mol/L～3.73×10<”-7>mol/L范围内呈良好线性关系;而在-0.25V电位吸附富集70s条件下,其线性范围为6.78×10<”-10>mol/L～2.72×10<”-8>mol/L,检测限达1.0×10<”-11>mol/L.将该方法应用于小米和玉米中微量和痕量叶酸的测定,结果满意,回收率在94﹪-102﹪之间.
差示脉冲溶出伏安法 叶酸 电化学分析法 汞电极
刘灵芳 王翠红 张娟 冶保献
解放军信息工程大学测绘学院(郑州) 郑州大学化学系(郑州)
国内会议
福州
中文
322-323
2001-11-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）