电喷雾质谱法表征甲基三乙氧基硅烷与四乙氧基硅烷杂化溶胶低聚体

摘要：

用电喷雾离子化质谱(ESI-MS)法测定了甲基三乙氧基硅烷(MEOS)和四乙氧基硅氧烷(TEOS)水解和缩聚杂化溶胶低聚体.其ESI-MS谱呈现一系列离子峰簇,簇内的相邻离子峰的质量数相差2,这可解释为一个羟基和一个甲基质量数之差.杂化溶胶低聚体的甲基数目对应于MEOS单元数,所以可以得到MEOS单元在各种低聚体中的数目.根据水解和缩合的反应机理,杂化溶胶试样中各种低聚体组成,可以由ESI-MS谱推算出.ESI-MS是一种方便和可靠研究杂化溶胶低聚体的方法.

关键词： 电喷雾质谱 甲基三乙氧基硅烷 四乙氧基硅氧烷 杂化溶胶 低聚体

作者: 刘兰珍 王瑛 朱善农

作者单位: 中国科学院化学研究分子科学中心 高分子物理与化学国家重点实验室(北京)

会议类型: 国内会议

会议名称: 第十一届有机分析和生物分析学术研讨会

会议地点: 福州

会议语种:中文

页码: 172-174

在线出版日期: 2001-11-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）