破坏性物理分析(DPA)——提高电子装备可靠性的重要手段

摘要：

介绍了DPA(Destructive Physical Analysis)的概念、内容,航天系统开展DPA的过程及所取得的成效,进一步阐述了PDA及与失效分析相结合,对于提高电子装备半导体器件可靠性具有重要意义.

关键词： 航天系统 电子装备 破坏性物理分析 失效分析 半导体器件

作者: 朱明让 朱军辉 余振醒

作者单位: 中国航空科技集团

会议类型: 国内会议

会议名称: 中国航空学会2001年学术年会

会议地点: 太原

会议语种:中文

页码: 426-433

在线出版日期: 2001-09-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）