屏蔽机箱上不接触贯穿导线HEMP感应电流研究

摘要：

受HEMP照射的微机系统,其机箱外壳可感应较强的电流.贯穿机箱外壳的连线将这种电流引入机箱内电路,可在电路上产生过电压或过电流,从而使设备受到干扰或损伤.本文用时域有限差分法验证了以上结论.本文的研究对正确估算HEMP对微机系统的干扰与损伤效应具有十分重要的意义.

关键词： 电磁脉冲 微机 感应电流 时域有限差分法 屏蔽机箱 电磁干扰

作者: 余同彬 周璧华

作者单位: 中国人民解放军理工大学工程兵工程学院(江苏南京)

会议类型: 国内会议

会议名称: 全国电磁兼容学术会议

会议地点: 广州

会议语种:中文

页码: 86-89

在线出版日期: 2001-11-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）