利用Eu-152和Eu-154混合源刻度γ谱仪效率

摘要：

本文简要叙述了HPGeγ谱仪的源峰绝对探测效率刻度的基本原理,着重讨论了利用Eu-152和Eu-154混合源进行效率刻度时,Eu-154源对Eu152的影响及其校正方法.

关键词： γ谱仪 全能峰 探测效率

作者: 阿景烨 仲云红 陈伟时

作者单位: 西北核技术研究所

会议类型: 国内会议

会议名称: 中国核学会2001学术年会

会议地点: 武汉

会议语种:中文

页码: 500-503

在线出版日期: 2001-11-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）