5～100keV X射线谱仪系统的建立及其效率校准

摘要：

建立了一套包括Si(Li)X射线谱仪和平面Ge X射线谱仪的高分辨率X射线谱仪系统,分别用于5～30keV和20～100keV能区X射线和低能γ射线能谱的测量.我们使用自己研制的一套高质量的低能X射线校准源,利用二次标准源法对该谱仪系统进行了效率校准.经过精心的校准后,该系统在5～100keV能区,全能峰效率的扩展不确定度U(K=3)≤3﹪.

关键词： X射线谱仪 全能峰效率 平面高纯锗谱仪 效率校准

作者: 赵玉华 岳骞 姚历农 周书华 周静 杜洪善 王里玉 郝秀红 颜素娟 段曦微 袁大庆

作者单位: 中国原子能科学研究院

会议类型: 国内会议

会议名称: 第三届全国核仪器应用学术会议

会议地点: 桂林

会议语种:中文

页码: 240-243,180

在线出版日期: 2001-09-20（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）