微测辐射热计焦平面阵列非均匀性校正方法研究

摘要：

瞬时噪声情况下,微测辐射热计可用常规两点校正方法进行空间非均匀性校正.然而,只有微测辐射热计工作在很小的基底温度变化范围内(0.01K之间),这种校正方法和比较有效.在常规两点增益与补偿校正方法的基础上,采用预偏置校正,可在更宽的基底温度范围内进行非均匀性校正.

关键词： 非均匀性校正 读出集成电路 预偏置校正 焦平面阵列 微测辐射热计

作者: 陈勇 皮德富 周士源 顾文韵 顾东升 史宁

作者单位: 南京理工大学电子工程与光电技术学院442教研室(南京)

会议类型: 国内会议

会议名称: 全国光电技术学术交流会

会议地点: 广西北海

会议语种:中文

页码: 220-223

在线出版日期: 2000-11-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）