利用FPGA实现红外焦平面器件的非均匀性校正
与红外单元器件系统相比,焦平面面阵探测器的一个最大的缺点是其固有的非均匀性,尽管现在面阵探测器的非均匀性有了很大的改进,但是探测器的非均匀性仍然限制着凝视红外系统的探测性能.实用化、实时的非均匀性校正是红外焦平面器件应用的一个关键技术,尽管现在已经有很多种基于场景的非均匀性校正方法,但是两点校正算法仍然作为基础的校正方法,仍然有其不可替代的价值.两点校正算法的流程简单固定,非常适合用FPGA实现.文章介绍了利用FPGA硬件实现焦平面探测器非均匀性校正的两点校正算法的基本方法,实验达到了预期的效果,同时实验也显示了两点校正算法的一些不足之外.
红外焦平面探测器 非均匀性校正 FPGA
陈宝国 郑志伟 黄士科 沈振康
中国空空导弹研究的(洛阳) 国防科技大学ATR实验室(长沙)
国内会议
广西北海
中文
215-219
2000-11-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）