PLZT-7.5/70/30厚膜制备及铁电、热释电性测量
研究了用sol-gel法制备PLZT-7.5/70/30微粉的工艺,进行了相应厚膜的制备.探讨了微粉团聚问题及防止团聚的有关措施.由XRD谱分析可知,在700°C下制备的PLZT-7.5/70/30厚膜试样为纯钙钛矿相.从铁电与热释电性分析结果可知,纯钙钛矿相PLZT-7.5/70/30厚膜试样的Ec在28°C和43°C下分别为24.25kv/cm和18.13kv/cm,p=4.6×10<”-8>c/cm<”2°>C.以上数据表明PLZT-7.5/70/30厚膜材料是一种优选的热释电材料.
铁电特性 热释电特性 非金属材料 原膜制备
曾亦可 刘梅冬 李军 夏冬林
华中理工大学电子科学与技术系(武汉)
国内会议
广西北海
中文
198-201
2000-11-01(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)