镍超微粉颗粒的Rietveld分析

摘要：

该文使用全谱拟合的Ｒｉｅｔｖｅｌｄ－Ｆｏｕｒｉｅｒ Ｘ射线线形分析方法研究电弧方法制备的镍超微粉衍射线形的特点及其颗粒微应变分变分布。结果表明：超微粉平均粒度平均粒度尺寸可以表示成其衍射射线参数的函数，且二者是一一对应的关系。此外，研究还发现镍超微粉颗粒内的微应变主要存在于小尺寸的颗粒中。

关键词： 超细粉 金属粉末 镍 X射线衍射分析

作者: 刘萍 王煜明

作者单位: 大学材料科学系(长春)

会议类型: 国内会议

会议名称: 1998年中国材料研讨会

会议地点: 北京

会议语种:中文

页码: 134～136

在线出版日期: 1999-01-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）