射线检验缺陷深度定位新方法

摘要：

本文作者提出了一种新的立体透照计算方法,用于确定射线检验缺陷在厚度方向的位置.

关键词： 射线检测 缺陷深度 定位方法

作者: 卢长勋

作者单位: 郑州纺织机械厂

会议类型: 国内会议

会议名称: 2001全国射线检测技术及加速器检测设备和应用技术交流会

会议地点: 郑州

会议语种:中文

页码: 193-194

在线出版日期: 2001-10-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）