CW7912K芯片铝条烧毁失效分析
就国定输出负压三端集成稳压器CW7912W在筛选测试过程中芯片铝条烧毁这一失效模式，根据集成电路设计原理，对电路中的支路电流进行了计算，得出了输负压变大不会使铝条烧毁这一结论。通过形貌观察和失效机理分析，判断其大电流是自输出端流向公共端的，与实际静态工作电流流向相反，这种情况只有输出端电位大于“0V”才会发生。模拟试验证实了被测试输出端出现不正常的过“0V”电压脉冲是导致器件失效的根本的原因。
芯片 铝条 失效分析
何成山 唐民 刘文丽 陈玉芝 赵广龙
中国空间技术研究院电子元器件可靠中心
国内会议
昆明
中文
242～246
2000-01-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）