一种专用MCU芯片的可测性设计
由于MCU芯片的结构非常复杂， 因此若在设计时采用一般ASIC设计的从结构出发的可测性设计技术（包括DFT和BIST）将使电路的规模大大增加。该文根据MCU具有指令系统的特点，从功能测试的角度出发，提出了一种在MCU设计中加入规模很小的模式选择电路， 对部分电路作较小改动，就使芯片内的各块电路都可被测试的方法。在完成了可测性设计后进行了仿真。
芯片 电路 专用集成电路 可测性设计
孙艺 汪东旭
上海交通大学(上海)
国内会议
北京
中文
1～5
1999-05-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）