用于中微子实验电子学系统的校准刻度电路

摘要：

描述了一个用于中微子实验电子学系统的校准刻度电路，刻度信号为指数波，电路采用了VME标准，具有手动和程控两种工作方式。

关键词： 校准刻度 指数波 VME标准

作者: 赵平平 庄保安 盛华义

作者单位: 中国科学院高能物理研究所(北京)

会议类型: 国内会议

会议名称: 第十届全国核电子学与核探测技术学术年会

会议地点: 成都

会议语种:中文

页码: 74～75

在线出版日期: 2000-09-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）