超声C扫描图像中的“云纹”现象浅析

关键词： 超声C扫描 无损检测 云纹 叠架效应 C型蜂窝结构

作者: 郭广平

作者单位: 北京航空材料研究院无损检测室

会议类型: 国内会议

会议名称: 第三届中国复合材料学会性能测试与检测专业委员会、第七届全国无损检测学会新技术专业委员会联合学术交流会

会议地点: 昆明

会议语种:中文

页码: 110

在线出版日期: 2000-12-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）