基于ATE的新装备维修测试体系研究

摘要：

本文简要分析了装备电子测试的现状和特点,提出了基于新一代ATE建立适应新装备发展需要的维修测试体系的必要性和技术途径.并强调了高性能通用ATE的核心作用.

关键词： 可测试性 ATE 故障覆盖率 TPS VXI总线

作者: 沈震 申春林 刘益新

作者单位: 空军第二研究所(北京)

会议类型: 国内会议

会议名称: 中国电子学会第七届学术年会

会议地点: 北京

会议语种:中文

页码: 175-178

在线出版日期: 2001-07-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）