KW16C03的测试方法研究

摘要：

本文介绍了一种具有语音处理功能的16位MCU的测试方法的研究及实现方案.

关键词： 集成电路 语言处理芯片 测试方法

作者: 彩虹 李素杰 彭崇梅 李全圣 姜明哲 陈潮枢 袁国顺

作者单位: 中国科学院微电子中心

会议类型: 国内会议

会议名称: 第十二届全国半导体集成电路硅材料学术会议

会议地点: 昆明

会议语种:中文

页码: 638-639

在线出版日期: 2001-04-12（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）