AlxGa1-xAs/GaAs量子阱探测器的均匀性研究
本文报导了128×1元Al<,x>Ga<,1-x>As/GaAs多量子阱探测器的均匀性研究.通过改进上下电极之间的绝缘工艺,使探测器的均匀性明显提高,其电阻不均匀性小于7.4﹪,平均响应率不均匀性小于10﹪,并获得清晰的手部热像.
量子阱探测器 均匀性 制造工艺 AlGaAs/GaAs
郭献东 刘天东 魏永乐 谢东珠 李洪发
航天科技集团八院803所(上海)
国内会议
贵阳
中文
123-125
2001-08-01(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)