GeSi量子点的微结构和能带排列

摘要：

本文利用同步辐射光源对Si(001)衬底上自组织生长的单层和多层量子点的微结构进行了研究,利用掠入射X射线衍射结合常规X射线同时测量出量子点的组分和应变.

关键词： GeSi量子点 微结构 能带排列 量子点组分 量子点应变

作者: 蒋最敏 蒋伟荣 施斌 樊永良 王迅

作者单位: 复旦大学应用表面物理国家重点实验室(上海)

会议类型: 国内会议

会议名称: 第六届全国分子束外延学术会议

会议地点: 贵阳

会议语种:中文

页码: 70-71

在线出版日期: 2001-08-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）