一种有效的故障测试集最小化算法

摘要：

本文简单介绍了最小完全故障测试集的性质,在此基础上提出了一种故障测试集最小化问题的最优保存遗传算法,讨论了故障测试集最小化问题的基因表达方式——面向故障的整数编码以及合理的适值函数.实例验证的结果表明,该算法可以取得满意的结果.

关键词： 遗传算法 测试集最小化 故障测试 集成电路

作者: 王小港 罗志宏 姚林声 甘骏人

作者单位: 中国科学院上海冶金研究所,传感器国家重点实验室CAD中心(上海)

会议类型: 国内会议

会议名称: 第十二届全国半导体集成电路硅材料学术会议

会议地点: 昆明

会议语种:中文

页码: 403-406

在线出版日期: 2001-04-12（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）