金属膜电阻器的开路失效机理

摘要：

本文以RJ-0.25W-330KΩ金属膜电阻器为例,探讨了高阻金属膜电阻器的开路失效机理.研究结果表明,导电膜的电解腐蚀引起导电膜开路导致是金属膜电阻器的整机使用中开路失效的原因.

关键词： 金属膜电阻器 开路 失效机理

作者: 王锡清

作者单位: 信息产业部电子五所

会议类型: 国内会议

会议名称: 第九届全国可靠性物理学术讨论会

会议地点: 延安

会议语种:中文

页码: 158-162

在线出版日期: 2001-09-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）