微波PIN开关组件极间放电机理与分析

摘要：

本文通过对微波大功率单刀三掷开关的失效分析和验证试验,确定了微波电场、高驻波电压、助焊剂残留物和工艺缺陷导致极间间距减小等多种因数综合引起极间(PIN二极管下电极和PIN二极管上电极引线或固定引线的传输线之间)放电,并形成自持放电电场产生等离子体区,使内部元件被严重烧毁,导致开关组件失效.论述了微波电场下气体介质的击穿电压比直流电压低的原因和过程.

关键词： 微波 开关 极间放电 失效分析 相控阵雷达

作者: 黄云等 郑廷圭 张晓明

作者单位: 信息产业部电子第五研究所(广州)

会议类型: 国内会议

会议名称: 第九届全国可靠性物理学术讨论会

会议地点: 延安

会议语种:中文

页码: 132-136

在线出版日期: 2001-09-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）