硅微波功率晶体管动态加速寿命试验研究

摘要：

本试验是对微波器件工作状态可靠性评价技术的探索,采用了与器件微波工作状态一致的试验技术,简化了试验设备,提高了设备可靠性.

关键词： 硅微波功率晶体管 工作寿命试验 可靠性数据

作者: 范国华 信息产业部电子5所 金毓铨 信息产业部电子5所 荣炳麟 信息产业部电子5所 来萍 信息产业部电子5所 冯进东 信息产业部电子5所 扬宝生 信息产业部电子5所 王瑞曾 信息产业部电子5所 田明均 信息产业部电子5所 徐进 信息产业部电子5所

作者单位: 信息产业部电子55所

会议类型: 国内会议

会议名称: 第九届全国可靠性物理学术讨论会

会议地点: 延安

会议语种:中文

页码: 110-117

在线出版日期: 2001-09-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）