混合集成电路的失效分析

摘要：

本文通过对两种混合集成电路:温控电路及隔离放大器BB3656BG的失效分析,表明以下观点:(1)对混合集成电路的分析,应通过电路内部测试,测量电路工作状态下各关键部位的参数乃至动态波形;(2)深入的分析过程有利于对电路透彻的了解及促进同类型电路分析的深度,有利于使分析结论更趋准确.

关键词： 混合集成电路 失效分析

作者: 樊晓团

作者单位: 航天半导体器件失效分析中心

会议类型: 国内会议

会议名称: 第九届全国可靠性物理学术讨论会

会议地点: 延安

会议语种:中文

页码: 102-106

在线出版日期: 2001-09-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）