两种军用集成电路的寿命可靠性评估

摘要：

本文针对军用集成电路特殊的可靠性要求,从加速寿命试验的原理和Arrhenius方程出发,详细介绍了某引信专用电路B-1和某机载专用传感器放大电路HG-6两种军用集成电路的贮存寿命和工作寿命等可靠性寿命评估的方法和结果,两种电路在25℃环境中贮存15年的可靠度均达到99﹪以上,完全能够满足军用集成电路的寿命可靠性要求.

关键词： 集成电路 寿命评估 贮存寿命 工作寿命

作者: 陈晖 凌琳

作者单位: 中国兵器工业第二一四研究所(蚌埠)

会议类型: 国内会议

会议名称: 第九届全国可靠性物理学术讨论会

会议地点: 延安

会议语种:中文

页码: 97-101

在线出版日期: 2001-09-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）