IT产品ESD测试及对策

摘要：

随着IT产品自动化、智能化程度越来越高,静电放电对其危害也越来越严重,本文根据笔者实际工作经验就静电放电对IT产品的危害及静电放电敏感度测试、电路设计对策等提出一些观点和看法,供大家在实际使用中参考.

关键词： 信息技术产品 静电放电 测试 电路设计

作者: 朱文立

作者单位: 中国赛宝总部实验室

会议类型: 国内会议

会议名称: 第九届全国可靠性物理学术讨论会

会议地点: 延安

会议语种:中文

页码: 81-86

在线出版日期: 2001-09-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）