军用分立半导体器件的现场可靠性研究

摘要：

本文依据现场数据进行了的分立半导体的可靠性研究,给出了失效模式分布和失效率,就现场出现多次失效的元器件分析了原因,并提出了相应的改进建议.

关键词： 半导体器件 可靠性 失效模式 失效率

作者: 朱启新

作者单位: 信息产业部电子五所

会议类型: 国内会议

会议名称: 第九届全国可靠性物理学术讨论会

会议地点: 延安

会议语种:中文

页码: 77-80

在线出版日期: 2001-09-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）