关于对电子元器件在长期储存试验中出现的若干失效实例的总结

摘要：

本文主要对在储存试验中电子元器件出现的若干失效实例的失效模式、失效机理进行归纳,总结出一些共性问题及相应的对策.

关键词： 电子元器件 储存试验 失效模式 失效机理

作者: 吴洵颖

作者单位: 信息产业部电子第五研究所

会议类型: 国内会议

会议名称: 第九届全国可靠性物理学术讨论会

会议地点: 延安

会议语种:中文

页码: 73-76

在线出版日期: 2001-09-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）