电子元器件长期贮存可靠性分析

摘要：

本文着重对8528只电子元器件在北京室内贮存十余年后的可靠性进行分析,分析了国产元器件的贮存失效率随时间的变化规律、失效模式和影响贮存可靠性的主要因素.进而结合广州、广元和桂林等地的长期贮存试验结果,估算了国产半导体器件的贮存寿命.此外,本文还根据我所及作者的实践经验,提供了长期贮存元器件的选用方法等.

关键词： 电子元器件 长期贮存 可靠性分析

作者: 杨家铿

作者单位: 电子五所

会议类型: 国内会议

会议名称: 第九届全国可靠性物理学术讨论会

会议地点: 延安

会议语种:中文

页码: 65-72

在线出版日期: 2001-09-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）