关键词: 电子产品 密封性 细检漏
作者: 吴琬光
作者单位: 信息产业部电子第五研究所
会议类型: 国内会议
会议名称: 第九届全国可靠性物理学术讨论会
会议地点: 延安
会议语种:中文
页码: 61-64
在线出版日期: 2001-09-01(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)