DPA是提高电子元器件使用可靠性的重要手段

摘要：

本文利用DPA即破坏性物理分析对电子元器件进行分析结果剔除不合格批次,保留合格批次,以保证型号任务的完成.

关键词： 电子元器件 可靠性 破坏性物理分析

作者: 张素娟 航空611所 田立平 航空611所 周永宁 航空611所 郑鹏洲 航空611所

作者单位: 军用电子元器件DPA实验室(北航)

会议类型: 国内会议

会议名称: 第九届全国可靠性物理学术讨论会

会议地点: 延安

会议语种:中文

页码: 24-27

在线出版日期: 2001-09-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）