破坏性物理分析促进军用电子元器件质量提高

摘要：

介绍了电子五所应用破坏性物理分析(DPA)技术促进国产军用电子元器件质量提高的几个实际例子.

关键词： 破坏性物理分析 军用电子元器件 缺陷模式控制

作者: 徐爱斌 信息产业部电子第五研究所 刘发 信息产业部电子第五研究所

作者单位: 总装备部电子信息基础部军用电子元器件DPA实验室(五所)

会议类型: 国内会议

会议名称: 第九届全国可靠性物理学术讨论会

会议地点: 延安

会议语种:中文

页码: 22-23

在线出版日期: 2001-09-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）