电子元器件的主要失效机理和失效分析技术

摘要：

本文综述了电子元器件的主要失效机理和失效分析技术.当元器件厂或整机厂需要委托专门机构或自行开展元器件失效分析工作时,本文具有一定的参考价值.

关键词： 失效分析 失效机理 电子元器件

作者: 费庆宇

作者单位: 信息产业部电子五所(广州)

会议类型: 国内会议

会议名称: 第九届全国可靠性物理学术讨论会

会议地点: 延安

会议语种:中文

页码: 15-21

在线出版日期: 2001-09-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）