嵌核系统芯片的测试

摘要：

亚微米和深亚微米技术的发展使在一个芯片上集成一个复杂的系统成为可能,为提高系统的设计效率,在功能模块复用概念基础上产生的知识产权核(IP core)逐渐广泛地被使用.这种带有知识产权核的系统芯片通常称为嵌核系统芯片.这种芯片的测试比传统的制造在印板上的系统(SoB)的测试更为困难.本文概述嵌核系统芯片测试的主要问题和一些可能的解决方法.

关键词： 嵌核系统 系统测试 可测性设计 嵌入式系统

作者: 黄维康 熊志平 张美玉 周瑞华

作者单位: 上海复旦大学电子工程系

会议类型: 国内会议

会议名称: 中国电子学会电路与系统学会第十六届年会

会议地点: 宁波

会议语种:中文

页码: 366-369

在线出版日期: 2001-05-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）