电子元器件可靠性工艺控制技术探讨

摘要：

本文根据我国电子元器件目前的生产情况,分析了制造过程产生工艺波动、影响产品质量与可靠性的原因,以及工艺因素与产品主要失效模式的相关性,并针对这些影响因素,探讨了在生产工艺上进行可靠性控制的技术和方法.为了更好地对元器件生产工艺实施全面、有效的控制,本文提供了进行产品可靠性工艺控制的基本程序供参考.

关键词： 电子元器件 可靠性 工艺控制

作者: 彭苏娥 陈光炳

作者单位: 信息产业部电子五所 信息产业部电子24所

会议类型: 国内会议

会议名称: 第九届全国可靠性物理学术讨论会

会议地点: 延安

会议语种:中文

页码: 190-194

在线出版日期: 2001-09-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）