电子元器件耐电压老化与局部放电试验

摘要：

本文针对电子设备小型化对设备安全性的影响问题,试图通过电子元器件的耐电压试验来评价电子设备的安全性.

关键词： 电子元器件 耐电压试验 可靠性 安全性

作者: 肖虹 常炜

作者单位: 信息产业部电子第五研究所(广州)

会议类型: 国内会议

会议名称: 第九届全国可靠性物理学术讨论会

会议地点: 延安

会议语种:中文

页码: 180-185

在线出版日期: 2001-09-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）