Bi系本征结I-V特性实验测量和理论分析

摘要：

本文报道了Bi<,2>Sr<,2>CaCu<,2>O<,8-x>I-V特性曲线的实验测量结果、相应模型及定性数值模拟结果和讨论.

关键词： 超导体 本征结 特性实验测量 I-V特性

作者: 孙国柱 冯一军 吉争鸣 尤立星 单文磊 康琳 杨森祖 程其恒 吴培亨

作者单位: 南京大学电子科学与工程系(南京)

会议类型: 国内会议

会议名称: 第六届全国超导电子器件学术会议

会议地点: 贵阳

会议语种:中文

页码: 74-77

在线出版日期: 2001-07-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）