一种简洁有效的ASIC可测性设计技术

摘要：

随着ASIC集成规模越来越大,可测性设计技术在数字系统设计过程中的地位愈发重要.本文在已有的可测性设计基础上,提出了一种简洁有效的可测性设计技术,可测试部分不可测故障,提高了故障覆盖率.,

关键词： ASIC 可测试性设计 故障覆盖率 数字电路

作者: 张民选 张承义 王永文 高军

作者单位: 国防科学技术大学计算机学院(长沙)

会议类型: 国内会议

会议名称: 第七届计算机工程与工艺学术年会

会议地点: 太原

会议语种:中文

页码: 105-408

在线出版日期: 2001-08-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）